Выполняется большой набор исследований микро- и наноструктур методами рентгеновской дифракции,
аналитической электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, оптической,
микроволновой и рентгеновской спектроскопии, вторично-ионной масс-спектроскопии,
электрофизические исследования полупроводниковых микроструктур, исследования магнитных и
сверхпроводящих свойств плёнок и наноструктур, оптические прецизионные измерения.