МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА В СВЯЗИ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ (METROLOGY AND MEASURING INSTRUMENTS IN COMMUNICATIONS MAGAZINE)

Россия, 103375, Москва, К-375, ул. Тверская, 7, Минсвязи России, НТУ, комн. 331
7 Tverskaya St., K-375, Moscow, 103375, Russia
(095) 201-6859
(095) 292-5370
(095) 923-0848
(095) 292-5370
(095) 923-0848

Общая информация о фирме: Научно-технический журнал Министерства Российской Федерации по связи и информатизации "Метрология и измерительная техника в связи" существует на телекоммуникационном рынке четвертый год. За это время он сумел занять одно из ведущих мест в ряду периодических изданий отрасли "Связь".
Журнал стал настольным изданием для многих технических руководителей, главных метрологов и специалистов метрологических служб предприятий отрасли "Связь", а также - других ведомств, входящих в РСС, ГКЭС, ГКРЧ, ГКИ. Он пользуется большой популярностью среди инженерно-технического персонала, занятого обслуживанием и ремонтом средств измерений и средств связи, научных сотрудников, учащихся вузов соответствующих специальностей, российских и зарубежных разработчиков и производителей контрольно-измерительной аппаратуры и средств связи.
В журнале рассматриваются проблемные вопросы метрологического обеспечения средств связи, пути их решения, программы и планы метрологического обеспечения отрасли, публикуются нормативные документы, в том числе методики выполнения измерений параметров средств связи, методические указания по поверке и калибровке отечественных и зарубежных средств измерений, информация о средствах измерений. Также публикуются статьи ведущих ученых и специалистов отрасли, информация о разработчиках и производителях средств измерений, о новых разработках в области измерительного оборудования для телекоммуникаций.
Журнал "Метрология и измерительная техника в связи" издается 6 раз в год и распространяется в России, странах СНГ и Балтии.
"Metrology and Measuring Instruments in Communications" is the magazine of the Russian Federation Ministry of Communications and Information Technologies covering crucial problems of metrology support, ways for their solving, applied standards, etc.