Микротехнология - 2009

Описание

Место проведения: Центральный выставочный комплекс "Экспоцентр"

Основные тематические разделы:

• Нанометрология:
• разработка методов тестирования зондов и наноматериалов
• зондовые исследования в нанометровом диапазоне
• создание тест-объектов для нанотехнологий
• приборы с электронным индикатором контакта для измерения внутренних и наружных размеров
• меры для воспроизведения параметров длин в нанометровом диапазоне
• Наноэлектроника (микроэлектроника):
• разработка физических основ работы активных приборов с нанометровыми размерами (квантовых)
• разработка физических основ технологических процессов
• разработка самих приборов и технологий их изготовления
• разработка интегральных схем с нанометровыми технологическими размерами и изделий электроники на основе наноэлектронной элементной базы
• другие наноэлектронные приборы и технологии
• Оборудование для наноиндустрии:
• наноспутники
• датчики перемещений на основе емкостного эффекта
• зеркальная оптика высокой разрешающей способности для систем видеонаблюдения
• высокочувствительные сейсмические и акустические туннельные датчики
• манипуляторы на основе пьезокерамических элементов
• наноаккумуляторы
• нанокомпьютеры (квантовые компьютеры)
• Технологии локальной модификации поверхности на наноуровне:
• формирования наноразмерных структур из жидкостей и газов на различных поверхностях
• локальных модификаций электрических, геометрических и других свойств самих поверхностей
• Нанороботы, наноботы
• Другие научно-технические разработки в области наноиндустрии